UkrReferat.com
найбільша колекція україномовних рефератів

Всього в базі: 75850
останнє поновлення: 2016-12-08
за 7 днів додано 17

Реферати на українській
Реферати на російській
Українські підручники

$ Робота на замовлення
Реклама на сайті
Зворотній зв'язок

 

ПОШУК:   

реферати, курсові, дипломні:

Українські рефератиРусские рефератыКниги
НазваВикористання скануючої тунельної мікроскопії для вивчення структури поверхні твердих тіл-провідників: Автореф. дис... канд. фіз.-мат. наук / С.Л. Пряд
Автор
РозділДисертації, автореферати
ФорматWord Doc
Тип документуРеферат
Продивилось1523
Скачало130
Опис
ЗАКАЧКА
Замовити оригінальну роботу

НАЦІОНАЛЬНА АКАДЕМІЯ НАУК УКРАЇНИ

 

ІНСТИТУТ МЕТАЛОФІЗИКИ ім. Г.В.КУРДЮМОВА

 

На правах рукопису

 

ПРЯДКІН Сергій Леонідович

 

ВИКОРИСТАННЯ СКАНУЮЧОЇ ТУНЕЛЬНОЇ МІКРОСКОПІЇ ДЛЯ ВИВЧЕННЯ СТРУКТУРИ

ПОВЕРХНІ ТВЕРДИХ ТІЛ – ПРОВІДНИКІВ

 

Спеціальність 01.04.18 – фізика і хімія поверхні

 

АВТОРЕФЕРАТ

 

дисертації на здобуття наукового ступеня

 

кандидата фізико-математичних наук

 

Київ –1998

 

Дисертацією є рукопис

 

Работа виконана в Інституті фізики твердого тіла Російської Академії

Наук

 

Науковий керівник - доктор фізико-математичних наук

 

Цой Валерій Степанович

 

Інститут фізики твердого тіла РАН

 

Офіційні опоненти – чл.-кор. НАН України, доктор

 

фізико-математичних наук,

 

професор Черепін ВалентинТихонович

 

Інститут металофізики ім.Г.В.Курдюмова НАН України

 

- кандидат фізико-математичних наук

 

Бєкєтов Генадій Васильович

 

Інститут фізики напівпровідників

 

Провідна установа – Інститут фізики НАН України, м.Київ

 

Захист відбудеться “_23_” грудня_ 1998_року о 15__ годині на засіданні

спеціалізованої вченої ради Д26.168.01 при Інституті металофізики ім.

Г.В. Курдюмова НАН України за адресою: м.Київ, бульв. акад.

Вернадського, 36, конференц-зал Інституту металофізики

 

З дисертацією можна ознайомитись у бібліотеці Інституту металофізики за

адресою м.Київ, бульв. акад. Вернадського, 36

 

Автореферат розісланий “21_” _листопада__1998 р.

 

Вчений секретар

 

Спеціалізованої вченої ради Піщак В.К.

 

ЗАГАЛЬНА ХАРАКТЕРИСТИКА РОБОТИ

 

Актуальність теми

 

З моменту винаходу у 1982 році [1] скануючого тунельного мікроскопу

(СТМ), цей прилад увійшов в групу найпоширеніших фізичних приладів для

дослідження поверхні твердих тіл, полімерів та органічних сполук.

 

Великий інтерес до СТМ пов’язаний із комбінацією декількох

властивостей:

 

висока просторова роздільна здатність;

 

можливість електронної спектроскопії поверхні з тією ж роздільною

здатністю;

 

можливість отримувати зображення поверхні не лише у вакуумі, але й в

атмосферних умовах та в рідинах, що дуже сильно поширює галузь

застосування методики.

 

З кожним роком виникають нові модифікації СТМ та поширюється кількість

напрямків його використання. Серед найважливіших галузей застосування

СТМ знаходяться:

 

1) визначення структури та електронних властивостей поверхні на атомному

рівні, вивчення адсорбції та діфузії атомів та молекул, хімічних реакцій

з участю адсорбантів;

 

2) дослідження морфології поверхні на масштабі 1нм – 1мкм з метою

з’ясування процесів росту, електрохімічного травлення, іонного

розпилювання, а також для вивчення процесів розсіювання на реальній

поверхні;

 

3) літографічна модифікація поверхні за допомогою СТМ.

 

В багатьох наукових лабораторіях використовуються, вдосконалюються та

виготовляються різноманітні спеціалізовані СТМ. І хоч багато відомих

фірм пропонує комерційні мікроскопи, але розвиток цієї методики в

лабораторії дозволяє пристосувати її до нестандартних вимірюваннь та

зекономити кошти.

 

Мета дисертаційної роботи

 

Розробка багатофункційного скануючого тунельного мікроскопу, розвиток

методичних можливостей СТМ та їх використання для вирішення

-----> Page:

0 [1] [2] [3] [4] [5] [6]

ЗАМОВИТИ ОРИГІНАЛЬНУ РОБОТУ