UkrReferat.com
найбільша колекція україномовних рефератів

Всього в базі: 75843
останнє поновлення: 2016-12-04
за 7 днів додано 10

Реферати на українській
Реферати на російській
Українські підручники

$ Робота на замовлення
Реклама на сайті
Зворотній зв'язок

 

ПОШУК:   

реферати, курсові, дипломні:

Українські рефератиРусские рефератыКниги
НазваОптимізація послідовностей тест-векторів в процесі тестового комбінованого діагностування цифрових мікропроцесорних пристроїв: Автореф. дис... канд. т
Автор
РозділДисертації, автореферати
ФорматWord Doc
Тип документуРеферат
Продивилось2447
Скачало123
Опис
ЗАКАЧКА
Замовити оригінальну роботу

 

Міністерство промислової політики України

 

 

 

 

 

Науково-виробнича корпорація

 

“КИЇВСЬКИЙ ІНСТИТУТ АВТОМАТИКИ”

 

 

 

ЧЕШУН Віктор Миколайович

 

 

 

УДК 681.518.54

 

 

 

 

 

ОПТИМІЗАЦІЯ ПОСЛІДОВНОСТЕЙ ТЕСТ-ВЕКТОРІВ

 

В ПРОЦЕСІ

 

ТЕСТОВОГО КОМБІНОВАНОГО ДІАГНОСТУВАННЯ ЦИФРОВИХ МІКРОПРОЦЕСОРНИХ

ПРИСТРОЇВ

 

 

 

 

 

05.13.05 - Елементи та пристрої обчислювальної

 

техніки та систем керування

 

 

 

 

 

АВТОРЕФЕРАТ

 

дисертації на здобуття наукового ступеня

 

кандидата технічних наук

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Київ - 1999

 

Дисертацією є рукопис.

 

Робота виконана на кафедрі комп'ютерних систем Технологічного

університету Поділля (м.Хмельницький).

 

 

 

Науковий керівник – доктор технічних наук, професор

 

ЛОКАЗЮК Віктор Миколайович,

 

зав.кафедрою комп'ютерних систем

 

Технологічного університету Поділля.

 

 

 

 

 

 

 

Офіційні опоненти: доктор технічних наук, професор

 

САВЧЕНКО Юлій Григорович, професор кафедри звукотехніки

 

і реєстрації інформації Національного технічного університету “Київський

політехнічний інститут”;

 

 

 

кандидат технічних наук РАБЧУК Віталій Львович, зав. відділом

проектування ЗАТ Інфоком – Супутникові комунікації.

 

 

 

Провідна установа – Вінницький державний технічний університет.

 

 

 

 

 

Захист відбудеться 2 червня 1999 року о 13 годині на засіданні

спеціалізованої вченої ради К 26.818.01 НВК ”Київський інститут

автоматики” за адресою: 254107, Київ-107, вул.Нагірна, 22.

 

 

 

З дисертацією можна ознайомитись у бібліотеці НВК ”Київський інститут

автоматики”.

 

Автореферат розісланий “ 30 ” квітня 1999 року.

 

 

 

 

 

 

 

Вчений секретар

 

спеціалізованої вченої ради

 

кандидат технічних наук

Л.П.Тронько

 

 

 

ЗАГАЛЬНА ХАРАКТЕРИСТИКА РОБОТИ

 

 

 

Актуальність теми. Забезпечення високих показникiв якостi та надiйностi

цифрових мікропроцесорних пристроїв та елементів обчислювальної техніки

неможливе без застосування автоматизованих систем контролю та

дiагностування як на етапах проектування та виробництва, так i на етапi

експлуатацiї. Продуктивність та ефективність таких систем значною мірою

залежить від використовуваних алгоритмів тестування об’єкта

діагностування.

 

Складність структури сучасних цифрових мікропроцесорних пристроїв

призводить до зниження ефективності ймовірнісних методів діагностування,

що пояснює перехід до використання більш складних та вірогідних

детермінованих алгоритмів діагностування.

 

Для діагностування цифрових пристроїв загальновизнаною є ефективність

використання детермінованих умовних алгоритмів діагностування. В той же

час проблема побудови цих алгоритмів для перевірки сучасних цифрових

мікропроцесорних пристроїв досліджена недостатньо. Ще менш досліджене

питання розробки умовних алгоритмів діагностування для пошуку

несправностей динамічного типу, питома вага яких в сучасних цифрових

мікропроцесорних пристроях зростає через підвищення робочих частот.

 

На сьогодні використовується такий підхід до реалізації умовних

алгоритмів діагностування, при якому аналіз отриманих відповідних

-----> Page:

0 [1] [2] [3] [4] [5] [6] [7] [8] [9] [10] [11] [12] [13]

ЗАМОВИТИ ОРИГІНАЛЬНУ РОБОТУ