UkrReferat.com
найбільша колекція україномовних рефератів

Всього в базі: 75843
останнє поновлення: 2016-12-04
за 7 днів додано 15

Реферати на українській
Реферати на російській
Українські підручники

$ Робота на замовлення
Реклама на сайті
Зворотній зв'язок

 

ПОШУК:   

реферати, курсові, дипломні:

Українські рефератиРусские рефератыКниги
НазваОптимізація технології і моделювання фізичних процесів у тонких плівках АIVBVI та структурах на їх основі: Автореф. дис... канд. фіз.-мат. наук / М.А.
Автор
РозділДисертації, автореферати
ФорматWord Doc
Тип документуРеферат
Продивилось2348
Скачало122
Опис
ЗАКАЧКА
Замовити оригінальну роботу

Міністерство освіти України

 

Прикарпатський університет імені Василя Стефаника

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Лоп'янка

 

Михайло Антонович

 

 

 

 

 

УДК 539.216.2:621.315.592

 

 

 

 

 

 

 

ОПТИМІЗАЦІЯ ТЕХНОЛОГІЇ

 

І МОДЕЛЮВАННЯ ФІЗИЧНИХ ПРОЦЕСІВ

 

У ТОНКИХ ПЛІВКАХ AIVBVI

 

ТА СТРУКТУРАХ НА ЇХ ОСНОВІ

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Спеціальність 01.04.18 - фізика і хімія поверхні

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

АВТОРЕФЕРАТ

 

дисертації на здобуття наукового ступеня

 

кандидата фізико-математичних наук

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Івано-Франківськ - 1999

 

 

 

 

 

Дисертацією є рукопис

 

Робота виконана на кафедрі фізики твердого тіла Прикарпатського

університету імені Василя Стефаника Міністерства освіти України

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Науковий керівник: заслужений діяч науки і техніки України, доктор

хімічних наук, професор

 

Фреїк Дмитро Михайлович,

 

Прикарпатський університет імені Василя Стефаника,

 

директор Фізико-хімічного інституту, завідувач кафедри фізики твердого

тіла,

 

м.Івано-Франківськ.

 

 

 

 

 

Офіційні опоненти: доктор фізико-математичних наук, професор

 

Раренко Іларій Михайлович,

 

Чернівецький державний університет імені Юрія Федьковича, завідувач

кафедри напівпровідникової мікроелектроніки, м.Чернівці;

 

 

 

доктор фізико-математичних наук, професор

 

Панченко Олег Антонович,

 

Інститут фізики НАН України, завідувач лабораторією розмірних

електронних явищ,

 

м.Київ.

 

 

 

 

 

Провідна організація: Інститут фізики напівпровідників Національної

Академії Наук України,

 

відділ фізики поверхні та мікроелектроніки,

 

м.Київ.

 

 

 

 

 

Захист відбудеться "9" жовтня 1999 р. о 1000 год. на засіданні

спеціалізованої вченої ради К 20.051.03 при Прикарпатському університеті

імені Василя Стефаника (76000 м.Івано-Франківськ, вул.Шевченка, 57)

 

 

 

 

 

З дисертацією можна ознайомитися у науковій бібліотеці університету

(76000 м.Івано-Франківськ, вул.Шевченка, 57)

 

 

 

Автореферат розісланий "9" вересня 1999 року

 

 

 

Вчений секретар

 

спеціалізованої ради В.М.Кланічка

 

 

 

 

 

ЗАГАЛЬНА ХАРАКТЕРИСТИКА РОБОТИ

 

Актуальність теми. Успіхи мікроелектроніки на сучасному етапі її

розвитку визначаються досягненнями в області напівпровідникового

тонкоплівкового матеріалознавства. Можливість плавної зміни ширини

забороненої зони у напівпровідниках АIVВVI та їх твердих розчинах від

температури, тиску, магнітного поля і складу обумовлюють перспективність

цих матеріалів для створення фотоприймачів і лазерів у довгохвильовій

області інфрачервоного спектру, а також термоелектричних пристроїв.

Високі значення діелектричної проникності та коефіцієнта

поглинання ( см-3) дають можливість використовувати епітаксійні плівки

для багатоелементних матриць. При цьому найважливішою проблемою є

дослідження природи атомних дефектів, керування їх типом і

концентрацією, визначення впливу дефектів на характер протікання

електронних процесів, їх зв'язку з технологічними параметрами, що

визначають умови вирощування тонкоплівкового матеріалу з наперед

заданими властивостями.

 

Не дивлячись на те, що вивчення плівок халькогенідів свинцю ведеться на

протязі тривалого часу, огляд існуючих робіт з цієї тематики вказує на

-----> Page:

0 [1] [2] [3] [4] [5] [6] [7] [8] [9] [10] [11] [12] [13]

ЗАМОВИТИ ОРИГІНАЛЬНУ РОБОТУ