UkrReferat.com
найбільша колекція україномовних рефератів

Всього в базі: 75838
останнє поновлення: 2016-12-03
за 7 днів додано 15

Реферати на українській
Реферати на російській
Українські підручники

$ Робота на замовлення
Реклама на сайті
Зворотній зв'язок

 

ПОШУК:   

реферати, курсові, дипломні:

Українські рефератиРусские рефератыКниги
НазваОсобливості фононних спектрів та резонансних властивостей кристалів з плоскими дефектами: Автореф. дис... канд. фіз.-мат. наук / С.Є. Савотченко, НАН
Автор
РозділДисертації, автореферати
ФорматWord Doc
Тип документуРеферат
Продивилось1651
Скачало101
Опис
ЗАКАЧКА
Замовити оригінальну роботу

НАЦІОНАЛЬНА АКАДЕМІЯ НАУК УКРАЇНИ

 

ФІЗИКО-ТЕХНІЧНИЙ ІНСТИТУТ НИЗЬКИХ ТЕМПЕРАТУР ім. Б.І.ВЄРКІНА

 

На правах рукопису

 

Савотченко Сергій Євгенович

 

УДК 539.2

 

Особливості фононних спектрів та резонансних властивостей кристалів з

плоскими дефектами

 

01.04.02 - теоретична фізика

 

АВТОРЕФЕРАТ

 

дисертації на здобуття наукового ступеня кандидата фізико-математичних

наук

 

Харків - 1998 р.

 

Дисертація є рукописом.

 

Робота виконана у Фізико-технічному інституті низьких температур ім.

Б.І. Вєркіна НАН України.

 

Науковий керiвник - Косевич Арнольд Маркович, член-кор. НАН України

доктор фiзико-математичних наук професор, завiдуючий вiддiлом ФТІНТ ім.

Б.І. Вєркіна НАН України.

 

Офіційні опоненти:

 

Іванов Михайло Олексійович, д. ф.-м. н. професор, завідуючий відділом

Інституту металофізики ім. Г.В.Курдюмова НАН України;

 

Господарьов Ігор Олександрович, к. ф.-м. н., науковий співробітник ФТІНТ

ім. Б.І.Вєркіна НАН України.

 

Провiдна установа: Харківський державний університет, кафедра

теоретичної фізики.

 

Захист відбудеться 16 березня 1999 р. о 15 годині на засіданні

Спеціалізованої вченої ради Д 64.175.02 по захисту докторських

дисертацій при Фізико-технічному інституті низьких температур ім. Б.І.

Вєркіна НАН України за адресою: 310164, м.Харків, пр.Леніна, 47.

 

З дисертацією можна ознайомитися в бібліотеці ФТІНТ ім. Б.І. Вєркіна НАН

України (м.Харків, пр.Леніна, 47).

 

Автореферат розіслано 16 лютого 1999 р.

 

Вчений секретар Спеціалізованої вченої ради Д 64.175.02

 

Доктор фізико-математичних наук Ковальов О.С.

 

ЗАГАЛЬНА ХАРАКТЕРИСТИКА РОБОТИ

 

Актуальність теми

 

Вивчення коливальних характеристик різних типів поверхневих хвиль в

кристалах необхідне для опису поверхневих явищ у твердих тілах і для

вдосконалення пристроїв, в яких використовуються поверхневі хвилі, а

також для розширення областей їх технічного застосування. Найбільш

широке застосування на практиці отримали хвилі релеєвського типу, що

мають компоненту вектора зміщення, перпендикулярну до поверхні кристалу.

Ця остання обставина робить хвилі релеєвського типу зручними для

вивчення експериментальними методами, бурхливий розвиток яких

відбувається протягом останніх десятиліть. Особливий інтерес в наш час

виник до вивчення резонансної взаємодії хвиль з плоским дефектом у

кристалі. Прикладами плоских дефектів в кристалах можуть бути двійникові

межі, міжфазні межі, двовимірні дефекти упаковки та інші. Використання

багатошарових кристалічних систем в електроніці та акустоелектроніці,

яке часом грунтується на резонансних властивостях таких систем, вимагає

аналізу особливостей спектру коливань, які виникають за рахунок

двовимірних меж, що розділяють монокристалічні шари. Особливості

розповсюдження різних типів локалізованих хвиль поблизу плоских дефектів

та взаємодія об'ємних хвиль з поверхнею повинні враховуватися в

ультразвуковій дефектоскопії, системах обробки сигналів,

експериментальних методах вивчення властивостей твердих тіл і

поверхневих явищ. Все перелічене вище робить актуальним розвиток

досліджень спектральних характеристик різних типів хвиль у кристалах з

-----> Page:

0 [1] [2] [3] [4] [5] [6] [7] [8] [9] [10] [11]

ЗАМОВИТИ ОРИГІНАЛЬНУ РОБОТУ